薄膜熱導率測試系統
產品介紹 薄膜熱導率測試系統 TCT 是采用 3ω測試方法,利用微/納米薄膜材料導熱引起加熱器電信號的變化來檢測其熱導率。主要應用范圍為微/納米薄膜材料的熱導率測量,可廣泛應用于輔助各種功能薄膜材料的研究與開發,其涵蓋范圍包括集成電路散熱材料、熱阻材料、熱電材料、信息存儲與光電材料等。 產品特點 采用3ω測試方法,利用微/納米薄膜材料導熱引起加熱器電信號的變化來檢測其熱導率; 不直接測量溫度變化,而是通過測量材料在導熱過程中溫度的變化轉換為電信號的變化,來實現微/納米薄膜材料的熱導率測試; 采用交流電加熱方式,同時選擇并優化設計加熱電極的形狀與尺寸,可確保加熱均勻性及測試應用的廣泛性; 待測薄…
 
       
       
       
         
          