熱膨脹系數分析儀
產品介紹 熱膨脹系數分析儀TEA 采用創新的光干涉原理專利技術，可無損檢測塊體和薄膜樣品的熱膨脹系數，廣泛應用于輔助各種新材料，尤其是薄膜材料的研究與開發以及質量檢驗。 產品特點 自主知識產權產品，擁有多項技術專利； 基于光干涉原理的創新技術； 采用 PID 調節與模糊控制相結合形式控制的紅外加熱方式，大溫區連續、高速溫度跟隨、既定程序升溫及保持控制； 非接觸式無損檢測，測試精度高； 具備外接抽真空設備、循環水冷設備及載氣或制冷能力； …… 技術參數 設備系列 TEA-3 溫度范圍 室溫~1200℃ 程序升溫重復性/速率偏差 ＜1.0%（10℃/s，中間段） 熱膨脹系數溫度測量精密度/準確度偏…
