用于測量澤貝克系數和電導率等參數
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用于測量室溫及變溫環(huán)境下,教學樣品的澤貝克系數和電導率等。
成熟的測試模型:采用動態(tài)法測量澤貝克系數,四線法測量電阻率、電導率
小巧輕便:設備重量4.1kg,體積不到3包A4紙,單手可托起
一體化設計:電容式觸摸屏控制,不需要另配操作電腦和真空泵;
操作簡易:標配多種教學標準樣品,即插即測,減少裝樣操作,提高教學效率;
中英雙語:操作界面為中英雙語,方便使用、適配面廣;
……
大專院校物理學院、材料學院、電子信息學院等近代物理和應用物理的創(chuàng)新實驗;
大學物理的對比與補充實驗;
測量原理
1、電導率測量:采用常規(guī)的I-V四電極法,兩端為電流電極,中間為電壓電極。
由于電壓電極與樣品接觸點在電流電極之間,可以排除電流電極與樣品接觸
電阻對測量的影響;又由于數字電壓表的輸出阻抗很高,電壓引線電阻以及
它們與樣品的接觸電阻對測量影響可忽略不計。因此,I-V四電極法能顯著
減少甚至排除引線與接觸電阻對測量的影響,是國際上通用的測量方法。
2、塞貝克系數測量:采用準動態(tài)法測量,通過不對稱加熱使樣品兩端產生連續(xù)
變化的微小溫差,通過記錄樣品兩端的溫差和熱電勢的變化并進行線性擬合,
擬合直線的斜率即為塞貝克系數。與傳統的靜態(tài)測量法相比,準動態(tài)測量法
測試精度更高。
實驗目的
⑴ 加深對塞貝克效應、帕爾帖效應和湯姆遜效應的概念理解,學習準動態(tài)法與
四電極法測量薄膜樣品塞貝克系數與電導率的實驗原理與方法
⑵ 通過變溫塞貝克系數與電導率的測量,學習通過變溫功率因子來評價材料的
熱電性能。
實驗內容與要求
1、室溫下的塞貝克系數與電導率測量
測量 n 型和 p 型 Bi2Te3系列樣品室溫下的塞貝克系數與電導率,計算出樣品
的功率因子。
2、變溫塞貝克系數與電導率測量
測量上述樣品從室溫至 450 K 的塞貝克系數與電導率隨溫度的變化,分析其
功率因子的變溫規(guī)律,給出定性解釋并評價其熱電性能。
注意事項
1、 安裝樣品時,要確認四個電極均與樣品電接觸良好,切勿用力過猛損壞探針
2、 一個樣品測試結束后,要等待其冷卻至室溫再更換其他樣品
思考題
1. 目前熱電材料的具體應用有哪些?
2.熱電塊狀材料與薄膜材料在應用上的優(yōu)勢與劣勢分別是什么?
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