塊體熱電參數(shù)測(cè)試系統(tǒng)
產(chǎn)品介紹 熱電參數(shù)測(cè)試系統(tǒng) Namicro 采用準(zhǔn)動(dòng)態(tài)法和四探針法分別測(cè)量樣品的Seebeck 系數(shù)和電阻率。主要是用于測(cè)試塊體熱電材料,包括康銅、鎳、鎢等金屬,Te、Bi2Te3、ZrNiSn、ZnAgSb、NiMoSb、SnTe、FeNbSb、 CuGaTe2、GeTe、CuS、Cu2ZnSnSe4等半導(dǎo)體及化合物,以及PANI、PEDOT等高分子聚合物。 產(chǎn)品特點(diǎn) 采用動(dòng)態(tài)法測(cè)量 Seebeck 系數(shù),避免了傳統(tǒng)靜態(tài)測(cè)量法在溫差測(cè)量方面的系統(tǒng)誤差,測(cè)量更準(zhǔn)確; 熱電參數(shù)測(cè)試儀采用四線法測(cè)量電阻率,測(cè)量更加穩(wěn)定可靠; 熱電偶不直接和樣品接觸,避免出現(xiàn)微型熱電偶斷裂失效的問題; 友好的軟件界…
 
       
       
       
       
       
         
          