在真空環(huán)境中可連續(xù)測量金屬、半導(dǎo)體、導(dǎo)電高分子等材料電阻隨溫度的變化
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薄膜變溫電阻測試儀TRT是采用雙電法測量高溫、真空、氣氛條件下樣品的電阻和電阻率,可以用來分析樣品的電阻率隨溫度變化曲線、電阻溫度系數(shù)、樣品相變溫度點等。其廣泛用于光電、鐵電、熱電等各種功能材料的電阻率測量。
采用四線法測量電阻率,測量更加穩(wěn)定可靠;
采用微伏級別電壓表,獲得的測試參數(shù)更加精確;
可針對客戶實際測試需求提供樣品載臺及腔室的定制化服務(wù);
卡箍設(shè)計,方便進行樣品更換,提高效率;
友好的軟件系統(tǒng),自動進行測試,并保存數(shù)據(jù)……
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