產(chǎn)品介紹 薄膜熱電參數(shù)測試系統(tǒng) MRS ，是專門針對薄膜材料的Seebeck系數(shù)和電阻率測量。 熱電材料是一種新型的優(yōu)質(zhì)的功能材料，具有體積小、重量輕、無任何機械噪音、不造成任何環(huán)境污染等眾多優(yōu)點，常用來制備發(fā)電系統(tǒng)或制冷系統(tǒng)。為了進一步提高熱電材料的轉(zhuǎn)化效率（熱電優(yōu)值），對其研究從塊體慢慢轉(zhuǎn)移到薄膜材料。 產(chǎn)品特點 熱電參數(shù)測試儀專門針對薄膜材料的 Seebeck 系數(shù)和電阻率測量； 采用動態(tài)法測量Seebeck系數(shù)，避免了靜態(tài)測量在溫差測量上的系統(tǒng)誤差，測量更準確； 采用四線法測量電阻率，測量更加穩(wěn)定可靠； 采用微伏級別電壓表，獲得的測試參數(shù)更加精確； 可針對客戶實際測試需求提供樣品載臺及…
產(chǎn)品介紹 熱電參數(shù)測試系統(tǒng) Namicro 采用準動態(tài)法和四探針法分別測量樣品的Seebeck 系數(shù)和電阻率。主要是用于測試塊體熱電材料，包括康銅、鎳、鎢等金屬，Te、Bi2Te3、ZrNiSn、ZnAgSb、NiMoSb、SnTe、FeNbSb、 CuGaTe2、GeTe、CuS、Cu2ZnSnSe4等半導(dǎo)體及化合物，以及PANI、PEDOT等高分子聚合物。 產(chǎn)品特點 采用動態(tài)法測量 Seebeck 系數(shù)，避免了傳統(tǒng)靜態(tài)測量法在溫差測量方面的系統(tǒng)誤差，測量更準確； 熱電參數(shù)測試儀采用四線法測量電阻率，測量更加穩(wěn)定可靠； 熱電偶不直接和樣品接觸，避免出現(xiàn)微型熱電偶斷裂失效的問題； 友好的軟件界…
產(chǎn)品介紹 便攜式Seebeck系數(shù)/熱電參數(shù)測試儀 PTM 是一款測試熱電材料Seebeck系數(shù)（常溫）的專業(yè)儀器。該儀器可用于快速測試薄膜、塊體、纖維等不同形態(tài)熱電材料的Seebeck系數(shù)，為熱電材料的科學(xué)研究及產(chǎn)業(yè)效率的提升提供更專業(yè)、 便攜的新選擇。 PTM-5 兼容四探針法測試電阻率。 產(chǎn)品特點 成熟的測試模型，采用動態(tài)法測量Seebeck系數(shù)，四探針法測試電阻率； 可用于快速測試薄膜、塊體、纖維等不同形態(tài)熱電材料的Seebeck系數(shù)和電導(dǎo)率； 樣品要求低，直接測試熱電材料的Seebeck系數(shù)和電阻率，對樣品形狀、結(jié)構(gòu)無特殊限制性要求； 快速測試，Seebeck系數(shù)測試時間低至6s/次…
產(chǎn)品介紹 用于測量室溫及變溫環(huán)境下,教學(xué)樣品的澤貝克系數(shù)和電導(dǎo)率等。 功能簡介 澤貝克系數(shù)測試 電阻率、電導(dǎo)率測試 室溫~150℃變溫測量 測試電流/電壓指示 自動測試功能 樣品在位檢測 測試中斷功能 數(shù)據(jù)導(dǎo)出功能 溫度/時間顯示功能 USB狀態(tài)顯示 … … … … 產(chǎn)品特點 成熟的測試模型：采用動態(tài)法測量澤貝克系數(shù)，四線法測量電阻率、電導(dǎo)率 小巧輕便：設(shè)備重量4.1kg，體積不到3包A4紙，單手可托起 一體化設(shè)計：電容式觸摸屏控制，不需要另配操作電腦和真空泵； 操作簡易：標配多種教學(xué)標準樣品，即插即測，減少裝樣操作，提高教學(xué)效率； 中英雙語：操作界面為中英雙語，方便使用、適配面廣； …… 應(yīng)…
