產品介紹 薄膜熱電參數測試系統 MRS ，是專門針對薄膜材料的Seebeck系數和電阻率測量。 熱電材料是一種新型的優質的功能材料，具有體積小、重量輕、無任何機械噪音、不造成任何環境污染等眾多優點，常用來制備發電系統或制冷系統。為了進一步提高熱電材料的轉化效率（熱電優值），對其研究從塊體慢慢轉移到薄膜材料。 產品特點 熱電參數測試儀專門針對薄膜材料的 Seebeck 系數和電阻率測量； 采用動態法測量Seebeck系數，避免了靜態測量在溫差測量上的系統誤差，測量更準確； 采用四線法測量電阻率，測量更加穩定可靠； 采用微伏級別電壓表，獲得的測試參數更加精確； 可針對客戶實際測試需求提供樣品載臺及…
產品介紹 熱電參數測試系統 Namicro 采用準動態法和四探針法分別測量樣品的Seebeck 系數和電阻率。主要是用于測試塊體熱電材料，包括康銅、鎳、鎢等金屬，Te、Bi2Te3、ZrNiSn、ZnAgSb、NiMoSb、SnTe、FeNbSb、 CuGaTe2、GeTe、CuS、Cu2ZnSnSe4等半導體及化合物，以及PANI、PEDOT等高分子聚合物。 產品特點 采用動態法測量 Seebeck 系數，避免了傳統靜態測量法在溫差測量方面的系統誤差，測量更準確； 熱電參數測試儀采用四線法測量電阻率，測量更加穩定可靠； 熱電偶不直接和樣品接觸，避免出現微型熱電偶斷裂失效的問題； 友好的軟件界…
產品介紹 便攜式Seebeck系數/熱電參數測試儀 PTM 是一款測試熱電材料Seebeck系數（常溫）的專業儀器。該儀器可用于快速測試薄膜、塊體、纖維等不同形態熱電材料的Seebeck系數，為熱電材料的科學研究及產業效率的提升提供更專業、 便攜的新選擇。 PTM-5 兼容四探針法測試電阻率。 產品特點 成熟的測試模型，采用動態法測量Seebeck系數，四探針法測試電阻率； 可用于快速測試薄膜、塊體、纖維等不同形態熱電材料的Seebeck系數和電導率； 樣品要求低，直接測試熱電材料的Seebeck系數和電阻率，對樣品形狀、結構無特殊限制性要求； 快速測試，Seebeck系數測試時間低至6s/次…
產品介紹 用于測量室溫及變溫環境下,教學樣品的澤貝克系數和電導率等。 功能簡介 澤貝克系數測試 電阻率、電導率測試 室溫~150℃變溫測量 測試電流/電壓指示 自動測試功能 樣品在位檢測 測試中斷功能 數據導出功能 溫度/時間顯示功能 USB狀態顯示 … … … … 產品特點 成熟的測試模型：采用動態法測量澤貝克系數，四線法測量電阻率、電導率 小巧輕便：設備重量4.1kg，體積不到3包A4紙，單手可托起 一體化設計：電容式觸摸屏控制，不需要另配操作電腦和真空泵； 操作簡易：標配多種教學標準樣品，即插即測，減少裝樣操作，提高教學效率； 中英雙語：操作界面為中英雙語，方便使用、適配面廣； …… 應…
2024年5月10日-2024年5月11日第一屆離子熱電材料研討會在南方科技大學工學院舉行。 這場研討會由南方科技大學、南京航空航天大學、東華大學、深圳大學、華南理工大學、香港城市大學、香港科技大學，這些知名學府的聯合主辦，注定了這場第一屆離子熱電材料研討會將是一場業界的盛宴！作為一家專注于物性分析儀器研發與制造的企業，嘉儀通有幸參展，期待與各位專家學者及業內同仁共襄盛舉，共同探討離子熱電材料的發展趨勢和技術創新。 以離子為載體的溶液及凝膠熱電材料體系，正在逐漸成為我們利用各種微小溫差熱能的有效途徑，華人學者也不斷涌現，成為這一新興領域的佼佼者。為了加強國內離子熱電材料領域的研究與交流，才有了…
電阻率是描述材料導電性能的物理量，它表示單位長度和單位截面積的導體在單位電場強度下的電阻。 對于薄膜材料，電阻率的大小與其微觀結構、摻雜程度、溫度等因素密切相關。薄膜電阻率的測量基于歐姆定律，即電阻與電流成正比，與電壓成反比。通過測量薄膜上的電壓和電流，我們可以計算出薄膜的電阻值，進而求得電阻率。 電阻率的測量方法有四探針法和范德堡法： 四探針法是一種常用的電阻率測量方法。該方法使用四個等間距的金屬探針與材料表面接觸，其中兩個探針用于通入電流，另外兩個探針用于測量電壓。通過測量電流和電壓的值，可以計算出材料的電阻率。 范德堡法是一種適用于測量材料電阻率的另一種方法。該方法利用范德堡電橋原理，通…
2023年11月2日，北京化工大學迎來了一臺設備驗收：嘉儀通Namicro-3-熱電參數測試系統，正式成為學校科研實驗的重要裝備。 此次驗收的嘉儀通Namicro-3-熱電參數測試系統，是北京化工大學為滿足測試熱電材料變溫Seebeck系數和電阻率需求而精心選購的。該設備在真空度、溫度穩定性以及數據穩定性等方面均達到了學校科研的嚴格要求，得到了科研團隊的高度認可。 嘉儀通Namicro-3-熱電參數測試系統是具有專利技術-專利號：ZL201811242049.2發明專利，采用動態法和四線法分別測量樣品的Seebeck系數和電阻率，主要用于測試塊體熱電材料,包括康銅,鎳、鎢等金屬,Te、Bi2T…
