長(zhǎng)江存儲(chǔ)經(jīng)驗(yàn)收測(cè)試，嘉儀通薄膜熱導(dǎo)率測(cè)試系統(tǒng)TCT功能要求和性能參數(shù)真實(shí)可信，測(cè)試精度及穩(wěn)定性可以滿足半導(dǎo)體材料電運(yùn)輸性能測(cè)量的實(shí)驗(yàn)需求。

以下為長(zhǎng)江存儲(chǔ)設(shè)備驗(yàn)收?qǐng)?bào)告：

薄膜熱導(dǎo)率測(cè)試系統(tǒng)TCT是采用3ω測(cè)試方法，利用微/納米薄膜材料導(dǎo)熱引起加熱器電信號(hào)的變化來(lái)檢測(cè)其熱導(dǎo)率。主要應(yīng)用范圍為微/納米薄膜材料的熱導(dǎo)率測(cè)量，可廣泛應(yīng)用于輔助各種功能薄膜材料的研究與開(kāi)發(fā)，其涵蓋范圍包括集成電路散熱材料、熱阻材料、熱電材料、信息存儲(chǔ)與光電材料等。

產(chǎn)品特點(diǎn)

不直接測(cè)量溫度變化，而是通過(guò)測(cè)量材料在傳熱過(guò)程中溫度變化引起的電信號(hào)變化來(lái)實(shí)現(xiàn)薄膜材料的熱導(dǎo)率測(cè)試。  

高精度數(shù)字源表并結(jié)合鎖相放大技術(shù)，保證測(cè)量結(jié)果的準(zhǔn)確性。

優(yōu)化的加熱電極的形狀與尺寸設(shè)計(jì)，可保證加熱均勻性及測(cè)試應(yīng)用的穩(wěn)定性。