塊體熱電參數(shù)測(cè)試系統(tǒng)
采用專利技術(shù)原理，無(wú)損檢測(cè)多種材料的 Seebeck 系數(shù)和電阻率
- 溫度范圍：室溫~800℃
- 電阻率誤差：≤±10%
- Seebeck系數(shù)誤差：≤±7%
- 最大升溫速率：20℃/min
產(chǎn)品詳情
產(chǎn)品介紹
熱電參數(shù)測(cè)試系統(tǒng) Namicro 采用準(zhǔn)動(dòng)態(tài)法和四探針法分別測(cè)量樣品的Seebeck 系數(shù)和電阻率。主要是用于測(cè)試塊體熱電材料，包括康銅、鎳、鎢等金屬，Te、Bi2Te3、ZrNiSn、ZnAgSb、NiMoSb、SnTe、FeNbSb、 CuGaTe2、GeTe、CuS、Cu2ZnSnSe4等半導(dǎo)體及化合物，以及PANI、PEDOT等高分子聚合物。
產(chǎn)品特點(diǎn)
采用動(dòng)態(tài)法測(cè)量 Seebeck 系數(shù)，避免了傳統(tǒng)靜態(tài)測(cè)量法在溫差測(cè)量方面的系統(tǒng)誤差，測(cè)量更準(zhǔn)確；
熱電參數(shù)測(cè)試儀采用四線法測(cè)量電阻率，測(cè)量更加穩(wěn)定可靠；
熱電偶不直接和樣品接觸，避免出現(xiàn)微型熱電偶斷裂失效的問題；
友好的軟件界面，操作簡(jiǎn)單，采用智能化數(shù)據(jù)存儲(chǔ)及處理算法；
……
技術(shù)參數(shù)
| 設(shè)備系列 | Namicro-3 |
|---|---|
| 溫度范圍 | 室溫-800℃（環(huán)境溫度） |
| 測(cè)量范圍 | 電阻率：0.1μΩ?m-106μΩ?m Seebeck 系數(shù)：|S|≥8μV/K |
| 相對(duì)誤差 | 電阻率≤±10%；Seebeck系數(shù)≤±7% |
| 分辨率 | 電阻率：0.05μΩ?m；Seebeck系數(shù)：0.05μV/K |
| 樣品尺寸 | 長(zhǎng)度：2mm-5mm；寬度：2mm-5mm 高度：10mm-18mm |
| 最大升溫速率 | 20℃/min |
應(yīng)用案例（部分）
嘉儀通科技 | jouleyacht
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